电子产品可靠性测试是为了评估产品在规定的寿命期间内，在预期的使用、运输或储存等所有环境下，保持功能可靠性而进行的试验项目。是将产品暴露在自然的或人工的环境条件下经受其作用，以评价产品在实际使用、运输和储存的环境条件下的性能，并分析研究环境因素的影响程度及其作用机理。
电子产品是以电能为工作基础的相关产品，主要包括：手表、智能手机、电话、电视机、影碟机（VCD、 SVCD、DVD）、录像机、摄录机、收音机、收录机、组合音箱、激光唱机（CD）、电脑、游戏机、移动通信产品等。
电子产品的可靠性试验类型：
1、按试验项目分为环境试验、寿命试验和特殊试验；
2、按试验目的分为筛选试验、鉴定试验和验收试验；
3、按试验性质分为破坏性试验和非破坏性试验。
对于大部分电子产品，寿命是最主要的可靠性特征量。因此，可靠性试验往往指的就是寿命试验。寿命试验可分为非工作状态的存储寿命试验和工作状态的工作寿命试验两类。为了缩短试验周期、减少样品数量和试验费用，常常采用加速寿命试验。而在电子产品加速寿命试验中，最常用的应力为温度和电压。
电子产品做可靠性检测的目的：
1、在研制阶段用以暴露试制产品各方面的缺陷,评价产品可靠性达到预定指标的情况；
2、生产阶段为生产过程质量监督提供信息；
3、对定型产品进行可靠性鉴定或验收；
4、暴露和分析产品在不同环境和应力条件下的失效规律及相关失效模式和失效机理；
5、为改进产品可靠性，制定和改进可靠性试验方案，为用户选用产品提供依据。
机械完整性试验项目：
1、机械冲击：确定光电子器件是否能适用在需经受中等严酷程度冲击的电子设备中。冲击可能是装卸、运输或现场使用过程中突然受力或剧烈振动所产生的。
2、变频振动：确定在规范频率范围内振动对光电子器件各部件的影响。
3、热冲击：确定光电子器件在遭受到温度剧变时的抵抗能力和产生的作用。
4、插拔耐久性：确定光电子器件光纤连接器的插入和拔出，光功率、损耗和反射等参数是否满足重复性要求。
5、存储试验：确定光电子器件能否经受高温和低温下运输和储存。
6、温度循环：确定光电子器件承受极高温度和极低温度的能力，以及极高温度和极低温度交替变化对光电子器件的影响。
7、恒定湿热：确定密封和非密封光电子器件能否同时承受规定的温度和湿度。
8、高温寿命：确定光电子器件高温加速老化失效机理和工作寿命。
加速老化试验
在光电子器件上施加高温、高湿和一定的驱动电流进行加速老化。依据试验的结果来判定光电子器件具备功能和丧失功能，以及接收和拒收，并可对光电子器件工作条件进行调整和对可靠性进行计算。
1、高温加速老化：加速老化过程中的很基本环境应力式高温。在实验过程中，应定期监测选定的参数，直到退化超过寿命终止为止。
2、恒温试验：恒温试验与高温运行试验类似，应规定恒温试验样品数量和允许失效数。
3、变温试验：变化温度的高温加速老化试验是定期按顺序逐步升高温度（例如，60℃、85℃和100℃）
4、温度循环：除了作为环境应力试验需要对光电子器件进行温度循环外，温度循环还可以对管电子器件进行加速老化。温度循环的加速老化目的一般不是为了引起特定的性能参数的退化，而是为了提供封装在组件里的光路长期机械稳定性的附加说明。
物理特性测试项目：
1、内部水汽：确定在金属或陶瓷封装的光电子器件内部气体中水汽含量。
2、密封性：确定具有内空腔的光电子器件封装的气密性。
3、ESD阔值：确定光电子器件受静电放电作用所造成损伤和退化的灵敏度和敏感性。
4、可燃性：确定光电子器件所使用材料的可燃性。
5、剪切力：确定光电子器件的芯片和无源器件安装在管座或其他基片上使用材料和工艺的完整性。
6、可焊性：确定需要焊接的光电子器件引线（直径小于30175mm的引线，以及截面积相当的扁平引线）的可焊性。
7、引线键合强度：确定光电子器件采用低温焊、热压焊、超声焊等技术的引线键合强度。
总之，需要做可靠性检测的产品种类有很多，各企业根据需求不同，会有不同的检测需求，可以根据自家产品的特性进行检测。
电子产品的可靠性十分重要，是产品质量的主要指标。2024新澳门免费原料网专环境试验设备研发与制造十多年，可为客户提供恒温恒湿试验箱、光老化试验箱、盐雾试验箱、快速温变试验箱、冷热冲击试验箱等众多环境试验设备及定制化服务，如果您对我们的产品有兴趣，欢迎来电咨询18963676693。谢谢！
电子产品是以电能为工作基础的相关产品，主要包括：手表、智能手机、电话、电视机、影碟机（VCD、 SVCD、DVD）、录像机、摄录机、收音机、收录机、组合音箱、激光唱机（CD）、电脑、游戏机、移动通信产品等。
电子产品的可靠性试验类型：
1、按试验项目分为环境试验、寿命试验和特殊试验；
2、按试验目的分为筛选试验、鉴定试验和验收试验；
3、按试验性质分为破坏性试验和非破坏性试验。
对于大部分电子产品，寿命是最主要的可靠性特征量。因此，可靠性试验往往指的就是寿命试验。寿命试验可分为非工作状态的存储寿命试验和工作状态的工作寿命试验两类。为了缩短试验周期、减少样品数量和试验费用，常常采用加速寿命试验。而在电子产品加速寿命试验中，最常用的应力为温度和电压。
电子产品做可靠性检测的目的：
1、在研制阶段用以暴露试制产品各方面的缺陷,评价产品可靠性达到预定指标的情况；
2、生产阶段为生产过程质量监督提供信息；
3、对定型产品进行可靠性鉴定或验收；
4、暴露和分析产品在不同环境和应力条件下的失效规律及相关失效模式和失效机理；
5、为改进产品可靠性，制定和改进可靠性试验方案，为用户选用产品提供依据。
机械完整性试验项目：
1、机械冲击：确定光电子器件是否能适用在需经受中等严酷程度冲击的电子设备中。冲击可能是装卸、运输或现场使用过程中突然受力或剧烈振动所产生的。
2、变频振动：确定在规范频率范围内振动对光电子器件各部件的影响。
3、热冲击：确定光电子器件在遭受到温度剧变时的抵抗能力和产生的作用。
5、存储试验：确定光电子器件能否经受高温和低温下运输和储存。
6、温度循环：确定光电子器件承受极高温度和极低温度的能力，以及极高温度和极低温度交替变化对光电子器件的影响。
7、恒定湿热：确定密封和非密封光电子器件能否同时承受规定的温度和湿度。
8、高温寿命：确定光电子器件高温加速老化失效机理和工作寿命。
加速老化试验
在光电子器件上施加高温、高湿和一定的驱动电流进行加速老化。依据试验的结果来判定光电子器件具备功能和丧失功能，以及接收和拒收，并可对光电子器件工作条件进行调整和对可靠性进行计算。
1、高温加速老化：加速老化过程中的很基本环境应力式高温。在实验过程中，应定期监测选定的参数，直到退化超过寿命终止为止。
2、恒温试验：恒温试验与高温运行试验类似，应规定恒温试验样品数量和允许失效数。
3、变温试验：变化温度的高温加速老化试验是定期按顺序逐步升高温度（例如，60℃、85℃和100℃）
4、温度循环：除了作为环境应力试验需要对光电子器件进行温度循环外，温度循环还可以对管电子器件进行加速老化。温度循环的加速老化目的一般不是为了引起特定的性能参数的退化，而是为了提供封装在组件里的光路长期机械稳定性的附加说明。
物理特性测试项目：
1、内部水汽：确定在金属或陶瓷封装的光电子器件内部气体中水汽含量。
2、密封性：确定具有内空腔的光电子器件封装的气密性。
3、ESD阔值：确定光电子器件受静电放电作用所造成损伤和退化的灵敏度和敏感性。
4、可燃性：确定光电子器件所使用材料的可燃性。
5、剪切力：确定光电子器件的芯片和无源器件安装在管座或其他基片上使用材料和工艺的完整性。
6、可焊性：确定需要焊接的光电子器件引线（直径小于30175mm的引线，以及截面积相当的扁平引线）的可焊性。
7、引线键合强度：确定光电子器件采用低温焊、热压焊、超声焊等技术的引线键合强度。
总之，需要做可靠性检测的产品种类有很多，各企业根据需求不同，会有不同的检测需求，可以根据自家产品的特性进行检测。
电子产品的可靠性十分重要，是产品质量的主要指标。2024新澳门免费原料网专环境试验设备研发与制造十多年，可为客户提供恒温恒湿试验箱、光老化试验箱、盐雾试验箱、快速温变试验箱、冷热冲击试验箱等众多环境试验设备及定制化服务，如果您对我们的产品有兴趣，欢迎来电咨询18963676693。谢谢！
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