冷热冲击试验所有温度相关测试中最严格的测试类型，因为它涉及高温变化率。在冷热冲击箱的使用方法一文中，我们提及了冷热冲击试验的测试步骤，对于电子器件的冷热冲击试验，有哪些需要注意的点呢？

通常，变化率为30℃/ min或更高。在运输或装载/卸载期间需要从温暖的位置运输到冷冻位置的零件将需要经历该测试以模拟其现实生活条件。

测试样品通常放置在冷热冲击箱低温室中，并在回到室温之前在短时间内移动到非常高的温度，经过几个循环重复。有两种类型的系统测试，即空气到空气或液体到液体。

空气对空气冷热冲击测试使用了非常高的温度变化率。在两箱式冷热冲击箱中，一个室温保持热，另一个室保持冷。使用托架在几秒钟内在两个腔室之间移动被测部件。全封闭式热冲击试验箱通常用于避免意外暴露于环境温度和人员操作的危险。

在液体到液体系统中，使用双缸系统和机械化篮式装置来使被测部件在低温与高温室之间移动。当需要更高热能的更高热传递率时，使用该系统的冷热冲击箱。
 

冷热冲击循环次数可以在1到250之间变化，其设置取决于设备类型及其应用。最好尝试对产品的使用寿命和使用情况进行一些类比。

在最后一个循环后，应使用10X至20X的放大镜对外壳，引线和密封件进行外部目视检查。其标记也应至少用3倍放大镜检查。在压力测试后，难以辨认的标记或任何损坏案件，导线或密封的证据应被视为失败。

除用冷热冲击箱进行相关试验外，还必须执行样品对部件规格的电气测试，以检测由于测试引起的电气故障。电子工业中由热冲击加速的失效机制包括芯片开裂，封装开裂，断线和引线键合被提升。

控制温度循环测试的两个行业标准是Mil-Std-883方法1011和JEDEC JESD22-A106。

军用标准883方法1011冷热冲击试验标准如下所示：

总转移时间<10秒  
总停留时间> 2分钟  
在<5分钟内达到指定温度
必须至少进行15个循环